xSTRESS g3

X射线衍射应力仪Xstress G3具有可修改的運動,可進入受限空間和複雜的幾何形狀。設計和結構的進步提高了真正可擕式殘餘應力和殘餘奧氏體分析儀的可靠性和功能

Xstress G3 X-ray diffractometer
  • 無損的
  • 適用於實驗室、工廠和現場使用
  • 快速組裝,10分鐘後即可使用
  • 易於更換x光管(鉻、銅、鈷、鐵、釩、鈦、錳),可測量不同的材料
  • 三個標準測量距離: 50、75和100毫米
  • 兩個NMOS位置敏感探測器
  • 暫態可調2θ角
  • 運行測量和計算殘餘應力和殘餘奧氏體含量的XTronic軟體(可選)
  • d-sin²χ 和ω測量模式作為標準