Xstress DR45 S Diffraktometer

Das Xstress DR45 S 2D ist mit 2D-Detektoren ausgestattet und besitzt keine Rotationseinheit. Es eignet sich ideal für die Qualitätssicherung und Forschungsanwendungen bei Messungen in nur einer Richtung.

• Schnelle und präzise Eigenspannungsmessung
  • Eigenspannungsergebnisse (in MPa) in weniger als 45 Sekunden (1 mm Kollimator, Cr-Röhre, gehärteter Werkzeugstahl, 5/5 Neigungen)
  • Schnelle Messung auch bei schwierigen Materialien wie z. B. großer Kornstruktur oder Textur
  • Messung mit kleinem Spotdurchmesser in angemessener Zeit möglich
  • Verwendung der genormten sin²ψ-Methode sowohl in modifizierter χ- als auch Ω-Geometrie
• Kompaktes Design
  • Die kompakte Bauweise ermöglicht die einfache Integration in beengte Umgebungen – Messungen sind sogar in Rohren oder bei komplexen Geometrien möglich
• Erweiterte Zusatzfunktionen
  • Peak-Breitenanalyse zur Härtebewertung
  • Messung im kontinuierlichen Sweep-Modus

Das modulare System erlaubt eine Investition in grundlegende Funktionen mit der Flexibilität zur späteren Aufrüstung. Ergänzend zum Xstress DR45 stehen Optionen wie Restaustenit-Messung und automatisiertes Mapping zur Verfügung.

Xstress DR45, Diffraktometer

• Das Röntgendiffraktometer Xstress DR45 verfügt über ein präzisionsgefertigtes, robustes Gehäuse, das maximale Stabilität und höchste Messgenauigkeit gewährleistet.
• Die Konstruktion ermöglicht ein präzises, softwaregesteuertes Kippen des Röntgenstrahlkopfs um ±45° – sowohl stufenweise als auch kontinuierlich – für vielseitige Messanwendungen.
• Verwendung der genormten sin²ψ-Methode sowohl in modifizierter χ- als auch Ω-Geometrie.

Stativ für Xstress DR45

• Magnetische Standfüße mit integrierter Höhenverstellung sorgen für sicheren Halt auf der Messoberfläche. Die Höhenverstellung ermöglicht eine präzise Positionierung und Messung von Bauteilen unterschiedlicher Größe.

2D-Detektorset für Xstress DR45

2D-Detektoren bieten hohe Effizienz in der Röntgendiffraktionsanalyse (XRD) und ermöglichen schnellere sowie präzisere Messungen – auch bei schwierigen Materialien.

• 2D-Detektoren, 2 Stück
  • Quantenwirkungsgrad > 90 % bei 5 keV
  • 256 × 256 Pixel mit einer Pixelgröße von 55 μm
  • Kein Dunkelstrom
• Standard-Detektorhalterung (Detektor-Bogen)
  • 2θ-Bereich der Detektoren:
    • Einstellbar im Bereich 127–165°
    • Vordefinierte Positionen: 135° / 140° / 145° / 150° / 156,4°

Xstress MU

Die Zentraleinheit Xstress-MU liefert zuverlässige Energie und Steuerung für das Röntgendiffraktometer und gewährleistet Präzision und Betriebssicherheit. Für den mobilen Einsatz konzipiert, mit integrierten Griffen und Rollen für einfachen Transport und Aufbau.

• Frei einstellbare Röntgenleistung: 5–30 kV / 0–10 mA, innerhalb sicherer Betriebsgrenzen regelbar
• Integriertes Flüssigkühlsystem: Sorgt für optimale Temperaturregelung und Dauerbetrieb
• Umfassende Sicherheitsverriegelungen: Alle erforderlichen Sicherheitsfunktionen zum Schutz des Bedienpersonals integriert
• Touchscreen-Bedienoberfläche: Zur Überwachung des Gerätestatus in Echtzeit und intuitiven Steuerung

Röntgenröhre

Wechselbare Röntgenröhre mit Wasserkühlung für maximale Temperaturstabilität.

• Standard: Chrom (Cr). Einfacher Austausch der Röntgenröhre (Cr, Cu, Co, Fe, V, Ti, Mn) ermöglicht Messung verschiedener Materialien.
• Maximale Ausgangsleistung: 30 kV / 9 mA / 270 W

Xstress Studio

Eine fortschrittliche Röntgendiffraktionssoftware zur nahtlosen Steuerung der Hardware und zur präzisen Analyse von Spannungs- und Diffraktionsdaten. Unser leistungsstarkes Tool gewährleistet zuverlässige Messungen bei Tiefenprofilen und Mapping-Verfahren.

• Messsteuerung und Datenanalyse
• Messvisualisierung
• Steuerung der Hardwarebedienung
• Konform mit der Norm EN 15305:2008

Messzubehör

• Verschieden große Kollimatoren zur Optimierung von Messbereich und Messdauer
  • Spotgrößen: 0,5 / 1 / 2 / 3 / 4 mm
• Spannungsfreie Pulverproben zur Abstandskalibrierung
  • Fe ferritisch / Fe austenitisch / Al
• Zubehör für die Systemwartung, z. B. Ersatzsicherungen

Systemzubehör

• Netzkabel für Xstress MU
• Ethernet-Kabel zum Anschluss des Xstress MU an den Computer
• Vollständiger Werkzeugsatz für Systemeinrichtung und Wartung
• Nachfüllflasche für Röntgensystem – für einfache und sichere Zugabe von Kühlflüssigkeit

Dokumentation

• Umfassende Benutzerdokumentation zur Unterstützung eines reibungslosen und effizienten Betriebs im täglichen Einsatz

Transportkoffer

• Aluminium-Transportverpackungen für Lieferung und Lagerung des Systems

Modular & zukunftssicher

• Das Xstress DR45 ist modular aufgebaut und ermöglicht das einfache Hinzufügen neuer Funktionen und Upgrades. Siehe die Liste der zusätzlichen Funktionen unter „Xstress-Optionen“.

Das Xstress DR45 S 1D ist mit 1D-Detektoren ausgestattet und besitzt keine Rotationseinheit. Es ist ein ideales, kompaktes Einstiegsgerät für die Qualitätssicherung und Forschungsanwendungen bei Messungen in nur einer Richtung.

• Präzise Eigenspannungsmessung
  • Genaue und zuverlässige Eigenspannungsmessung für eine breite Palette von Standardmaterialien
  • Verwendung der genormten sin²ψ-Methode sowohl in modifizierter χ- als auch Ω-Geometrie
• Kompaktes Design
  • Ermöglicht eine einfache Integration in beengte Räume und erlaubt Messungen sogar innerhalb von Rohren oder an Bauteilen mit komplexer Geometrie

Das modulare System erlaubt die Investition in grundlegende Funktionen mit der Flexibilität, diese später bei Bedarf aufzurüsten. Ergänzend zum Xstress DR45 stehen Optionen wie die Messung von Restaustenit und automatisiertes Mapping zur Verfügung.

Xstress DR45, Diffraktometer

• Das Röntgendiffraktometer Xstress DR45 verfügt über ein präzisionsgefertigtes, robustes Gehäuse, das maximale Stabilität und höchste Messgenauigkeit bietet.
• Die Konstruktion ermöglicht ein präzises, softwaregesteuertes Kippen des Röntgenstrahlkopfs um ±45°, sowohl stufenweise als auch kontinuierlich, und bietet dadurch vielseitige Messmöglichkeiten.
• Verwendung der genormten sin²ψ-Methode sowohl in modifizierter χ- als auch Ω-Geometrie.

Stativ für Xstress DR45

• Magnetische Standfüße mit Höhenverstellung ermöglichen eine sichere Befestigung des Geräts an der Messoberfläche. Die verstellbare Höhe erlaubt eine exakte Positionierung und Messung von Bauteilen unterschiedlicher Größe.

Detektor-Set

1D-Detektoren bieten Standardfunktionen für Röntgendiffraktionsmessungen (XRD). Sie sind effizient bei materialfreundlichen XRD-Anwendungen.

•  2 Stück 1D-Detektoren
  • Quantenwirkungsgrad ~5 % bei 5 keV
  • 1 × 256 Pixel mit 50 μm Pixelbreite
  • Dunkelstrommessung erforderlich
• Detektor-Bogen (50 mm)
  • Manuell verstellbare Detektorposition zur Abdeckung eines 2Θ-Bereichs von 110° bis 165°

Xstress MU

Die Zentraleinheit Xstress-MU liefert zuverlässige Energie und Steuerung für das Röntgendiffraktometer und gewährleistet Präzision und Betriebssicherheit. Für den mobilen Einsatz konzipiert, mit integrierten Griffen und Rollen für einfachen Transport und Aufbau.

• Frei einstellbare Röntgenleistung: 5–30 kV / 0–10 mA, innerhalb sicherer Betriebsgrenzen regelbar
• Integriertes Flüssigkühlsystem: Sorgt für optimale Temperaturregelung und Dauerbetrieb
• Umfassende Sicherheitsverriegelungen: Alle erforderlichen Sicherheitsfunktionen zum Schutz des Bedienpersonals integriert
• Touchscreen-Bedienoberfläche: Zur Überwachung des Gerätestatus in Echtzeit und intuitiven Steuerung

Röntgenröhre

Wechselbare Röntgenröhre mit Wasserkühlung für maximale Temperaturstabilität.

• Standard: Chrom (Cr). Einfacher Austausch der Röntgenröhre (Cr, Cu, Co, Fe, V, Ti, Mn) ermöglicht Messung verschiedener Materialien.
• Maximale Ausgangsleistung: 30 kV / 9 mA / 270 W

Xstress Studio

Eine fortschrittliche Röntgendiffraktionssoftware zur nahtlosen Steuerung der Hardware und zur präzisen Analyse von Spannungen und Diffraktionsdaten. Unser leistungsstarkes Tool gewährleistet zuverlässige Ergebnisse bei Tiefenverteilungen und Mapping-Messungen.

• Messsteuerung und Datenanalyse
• Messvisualisierung
• Steuerung des Hardwarebetriebs
• Konform mit der Norm EN 15305:2008

Messzubehör

• Verschieden große Kollimatoren zur Optimierung von Messbereich und Messdauer
  • Spotgrößen: 0,5 / 1 / 2 / 3 / 4 mm
• Spannungsfreie Pulverproben zur Abstandskalibrierung
  • Fe ferritisch / Fe austenitisch / Al
• Zubehör für die Systemwartung, z. B. Ersatzsicherungen

Systemzubehör

• Netzkabel für Xstress MU
• Ethernet-Kabel zum Anschluss des Xstress MU an den Computer
• Vollständiger Werkzeugsatz für Systemeinrichtung und Wartung
• Nachfüllflasche für Röntgensystem – für einfache und sichere Zugabe von Kühlflüssigkeit

Dokumentation

• Umfassende Benutzerdokumentation zur Unterstützung eines reibungslosen und effizienten Betriebs im täglichen Einsatz

Transportkoffer

• Aluminium-Transportverpackungen für Lieferung und Lagerung des Systems

Modular & zukunftssicher

• Das Xstress DR45 ist modular aufgebaut und ermöglicht das einfache Hinzufügen neuer Funktionen und Upgrades. Siehe die Liste der zusätzlichen Funktionen unter „Xstress-Optionen“.

Xstress DR45 S 1D und 2D

Xstress MU

Xstress Studio

• Steuerung der Hardwarekomponenten: Detektoren, Gleichstrommotoren, Stromversorgung, Verschluss (Shutter), Sicherheitsverriegelungen, Spannung und Stromstärke usw.
• Automatisierte Kalibrierung mit spannungsfreien Pulverproben zur Einstellung des Abstands zwischen Diffraktometer und Probe
• Projektmanager für Tiefenprofilmessungen und sämtliche Mapping-Messungen
• Bibliotheksfunktionen für Materialparameter
• Rechner zur theoretischen Bestimmung von Peak-Positionen basierend auf Material und verwendeter Strahlung
• Messmodi: modifiziertes χ- und Ω-Verfahren
• Bestimmung von Peak-Verschiebungen mit bekannten Methoden wie Kreuzkorrelation und Peak-Fit
• Peak-Fit mit 10 verschiedenen Funktionen: Gauß, Lorentz, Modifizierte Lorentz, Intermediate Lorentz, Pearson VII, Split Pearson VII, Pseudo-Voigt, Split Pseudo-Voigt, Voigt, Split Voigt
• Berechnung des Spannungstensors und der Hauptspannungen
• Projektdateiformat basiert auf JSON
• Entspricht EN 15305:2008 für die Eigenspannungsanalyse mit optionaler Restaustenitanalysegemäß ASTM E975-22

Berechnungsmethoden

• Datenvorbereitung
  • Absorptionskorrektur
  • Lorentz-Korrektur
  • Polarisationskorrektur
  • Hintergrundsubtraktion
  • Konstanter Hintergrund
  • Linearer Hintergrund
  • Parabolischer Hintergrund
  • Rachinger-Korrektur (K-Alpha2-Abzug)
  • Glättung
  • Gleitender Mittelwert
  • Savitzky-Golay
• Peak
  • Maximale Intensität (Höhe)
  • FWHM (Halbwertsbreite)
  • Integrale Breite
  • Fläche
• Peak-Verschiebung (Bestimmung der Beugungsposition)
  • • Kreuzkorrelation
    • Schwerpunkt
    • Zentrierter Schwerpunkt
    • Gleitender Schwerpunkt
    • Midchord (Mitte der Breite bei x% Höhe)
    • Parabolisch
    • Peak-fit Methoden
      • Gauss
      • Lorentz
      • Modified Lorentz
      • Intermediate Lorentz
      • Pearson-VII
      • Split Pearson-VII
      • Pseudo-Voigt
      • Split Pseudo-Voigt
      • Voigt
• Normal- und Schubspannung
  • Lineare Regression
  • Elliptische regression
  • Dölle-Hauk
• Spannungstensor
  • Spannungstensor ohne Sigma33
  • Spannungstensor mit Sigma33
• Hauptspannungen
  • Minimale und maximale Normalspannung
  • Maximale Schubspannung
  • Vergleichsspannung
• Statistik
  • Maximale Intensität
  • Minimale Intensität
  • Intensitätsverhältnis und Prüfung
  • Maximale Fläche
  • Minimale Fläche
  • Flächenverhältnis und Prüfung
  • Mittlere FWHM
• Tiefenprofil
  • Tiefenprofilkorrektur

Als Ergänzung zur Xstress-Produktfamilie bieten wir eine Reihe von Optionen, mit denen Messungen noch einfacher, schneller und sicherer durchgeführt werden können.

Weitere Informationen finden Sie unter Xstress options.

Diffraktometer Optionen

• Detektorfilter
• Detektorbögen für RS
• Restaustenit
• Röntgenröhren
• Verlängerte Beine
• Kollimatoren
• Kühlung

Probenhandhabung

• Kartierungsgeräte (X-Y)
• Rotationsgeräte
• Geräte mit elastischer Konstante
• Schraubstöcke

Gehäuse (Sicherheit)

• Tisch für Röntgenstrahlen
• Schränke
• Sicherheitswände
• Option für Gehäuse und Sicherheitswände

Optionen zur Tiefenmessung

• Elektropolierer
• Tiefenmessständer
• Messuhren

Kalibrierungsoptionen

• Pulverproben

Sonstiges

• Referenzproben
• Röntgenkamera
• PC
• Inbetriebnahme und Schulung
• Sprachoptionen

Röntgensicherheit – ANSI N43.3 – 2008

• Konform mit ANSI N43.3-2008 sowie weiteren Industriestandards für nichtmedizinische Röntgengeräte.
• Die Röntgendiffraktometer von Xstress arbeiten mit Maximalwerten von 30 kV Spannung, 10 mA Stromstärke und 300 W Leistung. Die Betriebsanleitung beschreibt die Sicherheitsverfahren für den Betrieb des Geräts.
• Wir bieten Sicherheitsgehäuse gemäß IEC 61010 an, die den geltenden nationalen Vorschriften sowie kundenspezifischen Sicherheitsanforderungen entsprechen.
• X-ray diffractometer safety regulations in general