Xstress DR45 Diffraktometer

Das Xstress DR45 mit 2D-Detektoren und automatischer Rotation ist ein ideales Röntgendiffraktometer für schnelle und präzise Eigenspannungsmessungen und liefert eine breite Palette hochwertiger Daten für die Analyse. Es eignet sich hervorragend für die  ualitätssicherung, die Überwachung industrieller Prozesse und Forschungsanwendungen.

• Schnelle und präzise Eigenspannungsmessung
  • Eigenspannungsergebnisse (in MPa) in weniger als 45 Sekunden (1mm Kollimator, Cr-Röhre, gehärteter Werkzeugstahl, 5/5 Neigungen)
  • Schnelle Messung selbst bei herausfordernden Materialien mit z.B. großer Kornstruktur oder Textur
  • Messung mit kleinem Spotdurchmesser in vertretbarer Zeit möglich
  • Verwendung der genormten sin²ψ-Methode sowohl in modifizierter χ-als auch Ω-Geometrie
• Mehrere Messrichtungen durch automatische Rotation
  • Eigenspannungsmessungen in mehreren Richtungen ermöglichen die Berechnung des Spannungstensors und der Hauptspannungen
  • Rotationsoszillation verbessert zusätzlich die Messbarkeit schwierigerer Materialien
• Erweiterte Zusatzfunktionen
  • 2D-Intensitätsanalyse, z.B. zur Bewertung von Korngröße und Textur
  • Erweiterte Analyse der Linienbreiten zur Härtebewertung
  • Messung im kontinuierlichen Sweep-Modus

Das modulare System erlaubt Ihnen, zunächst in essenzielle Funktionen zu investieren und es später flexibel nach Bedarf aufzurüsten. Ergänzend zum Xstress DR45 sind Optionen wie z. B. Restaustenit-Messung und automatisiertes Mapping verfügbar.

Xstress DR45 – Diffraktometer

• Das RöntgendiffraktometerXstress DR45 verfügt über ein präzisionsgefertigtes, robustes Gehäuse, das maximale Stabilität und Messgenauigkeit gewährleistet.
• Die Konstruktion ermöglicht ein präzises, softwaregesteuertes Kippen des Primärstrahls um ±45°, wahlweise in Stufen oder kontinuierlich –für vielseitige Messmöglichkeiten.
• Verwendung der genormten sin²ψ-Methode sowohl in modifizierter χ-als auch Ω-Geometrie.

Rotationsstativ für Xstress DR45

• Das Rotationsstativ ermöglicht eine präzise, softwaregesteuerte Rotation des Diffraktometersum ±180°
• Magnetische Standfüße mit Höhenverstellung sorgen für sicheren Halt auf der Messfläche. Die Höhenverstellung erlaubt die präzise Positionierung und Messung von Bauteilen unterschiedlicher Größe

2D-Detektorset für Xstress DR45

2D-Detektoren bieten hohe Effizienz in der Röntgendiffraktionsanalyse (XRD). Sie ermöglichen schnellere und genauere Messungen, selbst bei anspruchsvollen Materialien.

• 2D-Detektoren, 2 Stück
  • Quantenwirkungsgrad >90% bei 5keV
  • 256 ×256 Pixel mit einer Pixelgröße von 55μm
  • Keine Ruhestrommessung nötig
• Detektorhalterung für 2D-Detektoren (Standard)
  • 2θ-Bereich der Detektoren:
    • Einstellbar im Bereich 127–165°
    • Indexierte Positionen: 135°/ 140°/ 145°/ 150°/ 156,4°

Xstress MU

Die Zentraleinheit Xstress-MU liefert zuverlässige Energie und Steuerung für das Röntgendiffraktometerund gewährleistet Präzision und Betriebssicherheit. Für den mobilen Einsatz konzipiert, mit integrierten Griffen und Rollen für einfachen Transport und Aufbau.

• Frei einstellbare Röntgenleistung: 5–30kV / 0–10mA, innerhalb sicherer Betriebsgrenzen regelbar
• Integriertes Flüssigkühlsystem: Sorgt für optimale Temperaturregelung und Dauerbetrieb
• Umfassende Sicherheitsverriegelungen: Alle erforderlichen Sicherheitsfunktionen zum Schutz des Bedienpersonals integriert
• Touchscreen-Bedienoberfläche: Zur Überwachung des Gerätestatus in Echtzeit und intuitiven Steuerung

Röntgenröhre

Wechselbare Röntgenröhre mit Wasserkühlung für maximale Temperaturstabilität.

• Standard: Chrom (Cr). Einfacher Austausch der Röntgenröhre (Cr, Cu, Co, Fe, V, Ti, Mn) ermöglicht Messung verschiedener Materialien.
• Maximale Ausgangsleistung: 30kV / 9mA / 270W

Xstress Studio

Eine fortschrittliche Software zur Steuerung der Hardware und zur präzisen Analyse von Spannungs-und Diffraktionsdaten. Unser leistungsstarkes Tool gewährleistet zuverlässige Daten bei der Messung von Tiefenverteilungen und Mapping.

• Messsteuerung und Datenanalyse
  • 2D-Intensitätsanalyse, z.B. zur Bestimmung von Korngröße und Textur
  • Erweiterte Analyse der Linienbreite (FWHM) zur Härtebewertung
• Visualisierung der Messdaten
• Steuerung der Hardware
• Konform mit der Norm EN 15305:2008

Messzubehör

• Verschieden große Kollimatoren zur Optimierung von Messbereich und Messdauer
  • Spotgrößen: 0,5/1/2/3/4 mm
• Spannungsfreie Pulverproben zur Abstandskalibrierung
  • Feferritisch / Feaustenitisch / Al
• Zubehör für die Systemwartung, z.B. Ersatzsicherungen

Systemzubehör

• Netzkabel für Xstress MU
• Ethernet-Kabel zum Anschluss des Xstress MU an den Computer
• Vollständiger Werkzeugsatz für Systemeinrichtung und Wartung
• Nachfüllflasche für Röntgensystem –für einfache und sichere Zugabe von Kühlflüssigkeit

Dokumentation

• Umfassende Benutzerdokumentation zur Unterstützung eines reibungslosen und effizienten Betriebs im täglichen Einsatz

Transportkoffer

• Aluminium-Transportverpackungen für Lieferung und Lagerung des Systems

Modular & zukunftssicher

• Das Xstress DR45 ist modular aufgebaut und ermöglicht das einfache Hinzufügen neuer Funktionen und Upgrades. Weitere Informationen zu Zusatzfunktionen finden Sie in „Xstress Options“.

Das Xstress DR45 mit 1D-Detektoren und automatischer Rotation ist ein ideales Röntgendiffraktometer für präzise Eigenspannungsmessungen und liefert hochwertige Daten für die Analyse.

• Präzise Eigenspannungsmessung
  • Genaue und zuverlässige Eigenspannungsmessung bei einer Vielzahl von Standardmaterialien
  • Verwendung der genormten sin²ψ-Methode sowohl in modifizierter χ-als auch Ω-Geometrie
• Mehrere Messrichtungen durch automatische Rotation
  • Eigenspannungsmessungen in verschiedenen Richtungen ermöglichen die Berechnung der Hauptspannungen
  • Rotationsoszillation verbessert zusätzlich die Messbarkeit schwierigerer Materialien

Das modulare System erlaubt Ihnen, in die wichtigsten Funktionen zu investieren und es bei Bedarf flexibel aufzurüsten.

Zur Ergänzung des Xstress DR45 stehen zusätzliche Optionen wie z. B. Restaustenit-Messung und automatisiertes Mapping zur Verfügung.

Xstress DR45 – Diffractometer

• Das RöntgendiffraktometerXstress DR45 verfügt über ein präzise konstruiertes, robustes Gehäuse, das maximale Stabilität und Messgenauigkeit gewährleistet
• Die Konstruktion ermöglicht eine präzise, softwaregesteuerte Kippung des Röntgenkopfs um ±45°, sowohl schrittweise als auch stufenlos –für vielseitige Messmöglichkeiten.
• Verwendung der genormten sin²ψ-Methode sowohl in modifizierter χ-als auch Ω-Geometrie

Rotationsträger für Xstress DR45

• Der Rotationsträger ermöglicht eine präzise, softwaregesteuerte Rotation des Diffraktometersum ±180°
• Magnetische Standfüße mit Höhenverstellung sorgen für sicheren Halt auf der Messoberfläche. Die Höhenverstellung erlaubt die präzise Positionierung und Messung von Bauteilen unterschiedlicher Größen.

Detektorsatz

1D-Detektoren bieten Standardfunktionen für Röntgendiffraktionsmessungen und sind besonders effizient bei diffraktionsfreundlichen Materialien.

1D-Detektorsatz für Xstress DR45

• 1D-Detektorsatz für Xstress DR45, 2 Detektoren
  • Quantenwirkungsgrad ca. 5% bei 5keV
  • 1 ×256 Pixel mit 50μm Pixelbreite
  • Ruhestrommessung erforderlich
• Detektorhalter (Bogen) – 50 mm
  • Position des Detektors manuell einstellbar im 2θ-Bereich von 110°bis 165°

Xstress MU

Die Zentraleinheit Xstress-MU liefert zuverlässige Energie und Steuerung für das Röntgendiffraktometer und gewährleistet Präzision und Betriebssicherheit. Für den mobilen Einsatz konzipiert, mit integrierten Griffen und Rollen für einfachen Transport und Aufbau.

• Frei einstellbare Röntgenleistung: 5–30kV / 0–10mA, innerhalb sicherer Betriebsgrenzen regelbar
• Integriertes Flüssigkühlsystem: Sorgt für optimale Temperaturregelung und Dauerbetrieb
• Umfassende Sicherheitsverriegelungen: Alle erforderlichen Sicherheitsfunktionen zum Schutz des Bedienpersonals integriert
• Touchscreen-Bedienoberfläche: Zur Überwachung des Gerätestatus in Echtzeit und intuitiven Steuerung

Röntgenröhre

Wechselbare Röntgenröhre mit Wasserkühlung für maximale Temperaturstabilität.

• Standard: Chrom (Cr). Einfacher Austausch der Röntgenröhre (Cr, Cu, Co, Fe, V, Ti, Mn) ermöglicht Messung verschiedener Materialien.
• Maximale Ausgangsleistung: 30kV / 9mA / 270W

Xstress Studio

Eine fortschrittliche Röntgendiffraktionssoftware zur nahtlosen Steuerung der Hardware und präzisen Analyse von Spannungs- und Diffraktionsdaten. Unser leistungsstarkes Tool gewährleistet Zuverlässigkeit bei Tiefenverteilungen und Mapping-Messungen.

• Messsteuerung und Datenanalyse
• Visualisierung der Messdaten
• Steuerung der Hardwarebedienung
• Konform mit der Norm EN 15305:2008

Messzubehör

• Verschieden große Kollimatoren zur Optimierung von Messbereich und Messdauer
  • Spotgrößen: 0,5/1/2/3/4 mm
• Spannungsfreie Pulverproben zur Abstandskalibrierung
  • Fe ferritisch / Fe austenitisch / Al
• Zubehör für die Systemwartung, z.B. Ersatzsicherungen

Systemzubehör

• Netzkabel für Xstress MU
• Ethernet-Kabel zum Anschluss des Xstress MU an den Computer
• Vollständiger Werkzeugsatz für Systemeinrichtung und Wartung
• Nachfüllflasche für Röntgensystem – für einfache und sichere Zugabe von Kühlflüssigkeit

Dokumentation

• Umfassende Benutzerdokumentation zur Unterstützung eines reibungslosen und effizienten Betriebs im täglichen Einsatz

Transportkoffer

• Aluminium-Transportverpackungen für Lieferung und Lagerung des Systems

Modular & zukunftssicher

• Das Xstress DR45 ist modular aufgebaut und ermöglicht das einfache Hinzufügen neuer Funktionen und Upgrades. Weitere Informationen zu Zusatzfunktionen finden Sie in „Xstress Options“.

Xstress DR45

Xstress MU

Xstress Studio

• Steuerung der Hardwarekomponenten: Detektoren, Gleichstrommotoren, Stromversorgung, Verschluss (Shutter), Sicherheitsverriegelungen, Spannung und Stromstärke usw.
• Automatisierte Kalibrierung mit spannungsfreien Pulverproben zur Einstellung des Abstands zwischen Diffraktometer und Probe
• Projektmanager für Tiefenprofilmessungen und sämtliche Mapping-Messungen
• Bibliotheksfunktionen für Materialparameter
• Rechner zur theoretischen Bestimmung von Peak-Positionen basierend auf Material und verwendeter Strahlung
• Messmodi: modifiziertes χ-und Ω-Verfahren
• Bestimmung von Peak-Verschiebungen mit bekannten Methoden wie Kreuzkorrelation und Peak-Fit
• Peak-Fit mit 10 verschiedenen Funktionen: Gauß, Lorentz, Modifizierte Lorentz, Intermediate Lorentz, Pearson VII, Split Pearson VII, Pseudo-Voigt, Split Pseudo-Voigt, Voigt, Split Voigt
• Berechnung des Spannungstensors und der Hauptspannungen
• Projektdateiformat basiert auf JSON
• Entspricht EN 15305:2008 für die Eigenspannungsanalyse mit optionaler Restaustenitanalysegemäß ASTM E975-22

Xstress Studio Berechnungsmethoden

• Datenvorbereitung
  • Absorptionskorrektur
  • Lorentz-Korrektur
  • Polarisationskorrektur
  • Hintergrundsubtraktion
  • Konstanter Hintergrund
  • Linearer Hintergrund
  • Parabolischer Hintergrund
  • Rachinger-Korrektur (K-Alpha2-Abzug)
  • Glättung
  • Gleitender Mittelwert
  • Savitzky-Golay
• Peak
  • Maximale Intensität (Höhe)
  • FWHM (Halbwertsbreite)
  • Integrale Breite
  • Fläche
• Peak-Verschiebung (Bestimmung der Beugungsposition)
  • Kreuzkorrelation
  • Schwerpunkt
  • Zentrierter Schwerpunkt
  • Gleitender Schwerpunkt
  • Midchord(Mitte der Breite bei x% Höhe)
  • Parabolisch
  • Peak-fit Methoden
    • Gauss
    • Lorentz
    • Modified Lorentz
    • Intermediate Lorentz
    • Pearson-VII
    • Split Pearson-VII
    • Pseudo-Voigt
    • Split Pseudo-Voigt
    • Voigt profile
• Normal-und Schubspannung
  • Lineare Regression
  • Elliptische Regression
  • Dölle-Hauk
• Spannungstensor
  • Spannungstensor ohne Sigma33
  • Spannungstensor mit Sigma33
• Hauptspannungen
  • Minimale und maximale Normalspannung
  • Maximale Schubspannung
  • Vergleichsspannung
• Statistik
  • Maximale Intensität
  • Minimale Intensität
  • Intensitätsverhältnis und Prüfung
  • Maximale Fläche
  • Minimale Fläche
  • Flächenverhältnis und Prüfung
  • Mittlere FWHM
• Tiefenprofil
  • Tiefenprofilkorrektur

Zur Ergänzung der Xstress-Produktfamilie bieten wir eine Reihe von Optionen an, um Messungen noch einfacher, schneller und sicherer zu machen.

Weitere Details finden Sie auf der Seite Xstress options.

Diffraktometer-Optionen

• Detektorfilter
• Detektorbögen für Eigenspannungsmessungen (RS)
• Restaustenit
• Röntgenröhren
• Verlängerte Beine
• Kollimatoren
• Kühlung

Probenhandhabung

• Mapping- (X-Y) Geräte
• Rotationsgeräte
• Geräte zur Bestimmung elastischer Konstanten
• Schraubstöcke

Einhausungen (Sicherheit)

• Tisch für Röntgengeräte
• Schränke
• Sicherheitswände
• Optionen für Einhausungen und Sicherheitswände

Optionen für Tiefenmessungen

• Elektropolierer
• Messstand für Tiefenmessungen
• Messuhr-Werkzeuge

Kalibrierungsoptionen

• Pulversproben

Sonstiges

• Referenzproben
• Röntgenkamera
• PC
• Inbetriebnahme & Schulung
• Sprachoptionen

Röntgensicherheit – ANSI N43.3 – 2008

• Konform mit ANSI N43.3-2008 sowie weiteren Industriestandards für nichtmedizinische Röntgengeräte.
• Die Röntgendiffraktometer von Xstress arbeiten mit Maximalwerten von 30 kV Spannung, 10 mA Stromstärke und 300 W Leistung. Die Betriebsanleitung beschreibt die Sicherheitsverfahren für den Betrieb des Geräts.
• Wir bieten Sicherheitsgehäuse gemäß IEC 61010 an, die den geltenden nationalen Vorschriften sowie kundenspezifischen Sicherheitsanforderungen entsprechen.
• X-ray diffractometer safety regulations in general