Xstress DR45

Das Xstress DR45 stellt eine neue Generation von Röntgendiffraktometer dar, welche dem Bediener vollumfängliche Messergebnisse schneller als je zuvor bietet.

Xstress DR45 parts with motion blur

Xstress DR45 im Produktionsumfeld
  • Schnelle Messungen, u.U. zur Einbindung in eine Produktionslinie
  • Einfache Softwarebedienung für Anlagenbediener
  • Vorlagen für häufig getätigte Messungen

Xstress DR45 shot

Xstress DR45 im Laboreinsatz
  • Entspricht der EN15305 Norm
  • Unterschiedliche Berechnungsverfahren verfügbar wie z.B. Lineare und elliptische Regression, Dölle-Hauk, Hauptspannungen und Spannungstensor. Die Peak-Fit-Methoden beinhalten die Kreuzkorrelation, Parabelfit, Gauss, Lorentz, modified Lorentz, intermediate Lorentz, Pearson VII, Pseudo-Voigt, Voigt, Schwerpunkt, zentrierter Schwerpunkt, gleitender Schwerpunkt, und die Midchord-Methode
  • Die Mechanik des Diffraktometers erlaubt Eigenspannungsmessungen an einer Vielzahl von unterschiedlich geformten Bauteilen
  • Einfacher und schneller Röhrenwechsel

Xstress DR45 portrait

Xstress DR45 im Feldeinsatz
  • Schneller Aufbau, betriebsbereit in etwa 10 Minuten
  • Robustes Design von Diffraktometer und Zentraleinheit
  • Das Diffraktometer-Design ermöglicht Messungen auf unebenen Oberflächen; mit Magnetfüßen kann das Diffraktometer in verschiedenen Positionen befestigt werden.

Xstress DR45

Eigenschaften

Xstress DR45, Diffraktometer
  • Rotation +- 180°
  • Kippungsbereich ±45°
  • Standard Messabstand 45 mm
  • Höhenverstellbare Tripodbeine mit Magnetfüssenn
Röntgenröhre
  • Chrom (Cr) mit Hochspannungsanschlusskabel
  • Maximale Leistung 30 kV/9 mA/270 W
  • Schnellerer Röhrenwechsel
Detektor-Set für Xstress DR45
  • 2D Detektoren, 2 Stück
    • Quantum-Effizienz >90% bei 5 keV
    • 256 x 256 Pixel
    • Pixelgröße 55 µm
    • Kein Dunkelstrom
  • Detektorbogen 45 mm
    • 2θ-Bereich:
      • Verstellbar von 127–165°
      • Indexierte Positionen 135°/145°/156.4°
Xstress MU, Zentraleinheit
  • Röntgenröhren Stromversorgung 5–30 kV/0–10 mA innerhalb Grenzen frei einstellbar
  • Geschlossener Kühlmittelkreislauf
  • Beinhaltet alle notwendigen Schaltsperren zur Betriebssicherheit
  • Beinhaltet ein Touch screen-Bildschirm zur Kontrolle vom unterschiedlichen Status-Angaben
Xstress Studio*
  • Mess-Steuerung
  • Daten-Analyse
  • Mess-Visualisierung
  • Überwachung von Hardware-Status

*Detaillierte Informationen unten

Werkzeug-Set für Xstress DR45
  • Vollständiges Werkzeugset für mechanische Ausrichtungen und Wartungsarbeiten
Kabel
  • Stromkabel für Xstress Zentraleinheit
  • Ethernet Kabel zum Anschluss von der Xstress Zentraleinheit an einen PC
Zubehör für Xstress DR45
  • Austauschbare Kollimatoren
    • Verschiedene Kollimatoren zur Optimisierung der Messfläche und Messzeit
    • 0.5/1/2/3/4 mm Messpunkt-Durchmesser
  • Satz von spannungsfreien Pulverproben zur Messabstandskalibrierung
    • Fe-ferr. / Fe-aust. / Al
  • Ersatzteile zur Systemwartung, z.B. Sicherungen
Transportkisten
  • Transportkisten aus Aluminium für Transport und Lagerung

Optionen

Röntgenröhren
  • Röntgenröhre Chrom (Cr) mit 1 m Kühlmittelschlauch
  • Röntgenröhre Kupfer (Cu) mit 1 m Kühlmittelschlauch
  • Röntgenröhre Mangan (Mn) mit 1 m Kühlmittelschlauch
Kabel für Röntgenröhren
  • Xstress Hochspannungskabel 5 m mit Anschlussstecker
  • Xstress Kühlmittelschlauch 4 m, 2 Stück
Hardware
  • Kundenspezifische Spezialkollimatoren
  • Extended legs
Xstress Studio

Sprachoptionen

  • Deutsche Sprache für Xstress Studio
  • Chinesische Sprache für Xstress Studio

Abmessungen

Xstress DR45

dimension diagram of Xstress DR45

Xstress MU

dimension diagram of xstress mu

Software

Xstress Studio
  • Hardware Steuerung: Detektoren, Motoren, Stromversorgung, Blende, Funktionen der Betriebssicherheit, Strom- und Spannungs-Monitor, etc.
  • Automatisierter Kalibriervorgang mit Pulverprobe, um Messabstand zu Probe einzustellen
  • Project Manager-Funktion zur zusammenhängenden Darstellung von Eigenspannungstiefenverläufen und anderen Mapping-Funktionen
  • Material-Bibliothek inkl. aller relevanter Werkstoffparameter
  • Theoretische Peak-Positionsberechnung für bestimmtes Material und Strahlenquelle
  • Modifizierter χ und Ω Messmodus
  • Peak shift- Bestimmung anhand von allen gängigen Verfahren, wie z.B. Kreuzkorrelation und peak fit methods
  • Peak fit mit 10 unterschiedlichen Funktionen: Gauss, Lorentz, Modified Lorentz, Intermediate Lorentz, Pearson VII, Split Pearson VII, Pseudo-Voigt, Split Pseudo-Voigt, Voigt und Split Voigt
  • Berechnung von Hauptspannungen und Spannungstensor stresses
  • JSON basiertes Datenformat für Projektexport
  • Entspricht EN 15305:2008

xstress studio screenshot 1

xstress studio screenshot 2

xstress studio screenshot 3

Xstress Studio Berechnungs-Methoden
  • Daten-Verarbeitung
    • Absorptionskorrektur
    • Lorentz
    • Polarization
    • Hintergrundabzug
    • Konstant
    • Linear
    • Parabolisch
    • Rachinger Korrektur (K-alpha2 Trennung)
    • Glättung
    • Gleitender Mittelwert
    • Savitzky-Golay
  • Peak
    • Maximale Intensität (Signalhöhe)
    • Halbwertsbreite
    • Integrale Breite
    • Fläche
  • Peak shift (diffraction line position determination)
    • Kreuzkorrelation
    • Schwerpunkt
    • Zentrierter Schwerpunkt
    • Gleitender Schwerpunkt
    • Midchord
    • Parabel-Fit
    • Peak fit
    • Gauss
    • Lorentz
    • Modified Lorentz
    • Intermediate Lorentz
    • Pearson VII
    • Split Pearson VII
    • Pseudo-Voigt
    • Split Pseudo-Voigt
    • Voigt
  • Normal- und Schubspannung
    • Lineare Regression
    • Elliptische Regression
    • Dölle-Hauk
  • Spannungstensor
    • Spannungstensor ohne sigma33
    • Spannungstensor mit sigma33
  • Hauptspannungen
    • Minimale und maximale Normalspannung
    • Maximale Schubspannung
    • Equivalente Spannung
  • Statistik
    • Maximale Intensität
    • Minimale Intensität
    • Intensitätsverhältnis und Überprüfung
    • Maximale Fläche
    • Minimale Fläche
    • Flächenverhältnis und Überwachung
    • Durchschnittliche Halbwertsbreite FWHM
  • Tiefenprofil
    • Tiefenprofil-Korrektur

Sicherheit

ANSI N43.3 – 1993