Xstress 选项

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• 支持2D 探测器
• 支持旋转
• 残余奥氏体模块
• FWHM 分布模块

配备二维探测器和探测器自动移动功能的自动残余奥氏体测量选项，将XRD残余奥氏体测量技术提升至全新高度。对于残余奥氏体含量为2%的材料，测量时间不到五分钟。操作、移动可视化及分析均在Xstress Studio软件中完成。

Xstress DR45的Xstress RA 套件

• 电动探测器弧支架
• 用于探测器的钒滤片
• Xstress Studio 选项

适用于1D短探测器的Xstress DR45的残余奥氏体套件

• Xstress Studio 选项：残余奥氏体模块
• 残余奥氏体弧支架
• 用于1D探测器的钒（V）滤片

适用于1D长探测器的Xstress DR45的残余奥氏体套件

• Xstress Studio 选项：残余奥氏体模块
• 残余奥氏体弧支架
• 用于加长1D探测器的钒（V）滤片

更长的探测器，用于检测更宽的衍射角。适用于衍射峰需要更宽探测角的硬质材料等场景。仅提供1D选项。

适用于Xstress DR45的1D长探测器组

• 2件
• 双位敏MOS线性图像传感器
• 活性面积 25.6 × 2.5 毫米
• 512像素

用于2D探测器的探测器支架弧（短版）

• 探测器的2θ.检测范围:
  • 建议仅在156.4位置使用
  • 索引位置156.4°

用于1D探测器的探测器支架弧（短版）

• 探测器的2θ.检测范围:
  • 可在140 至165 之间调节

K-β滤片用于过滤特定X射线管产生的K-β衍射峰。滤片无需任何工具即可安装在探测器上。

• 用于2D探测器的钒（V）滤片
• 用于1D探测器的钒（V）滤片
• 用于1D探测器的铬（Cr）滤片
• 用于1D探测器的镍（Ni）滤片
• 用于1D探测器的铁（Fe）滤片
• 用于加长1D探测器的钒（V）滤片
• 用于1D长探测器的镍（Ni）滤片
• 用于1D长探测器的铬（Cr）滤片
• 适用于1D长探测器的铁（Fe）滤片

如果所需滤片不在列表中，请咨询是否有货。

X射线管靶材的选择基于所测材料的晶格结构。应选择高的2θ角（建议大于145度）。

X射线管:

• 铜靶（Cu）X射线管，5米电缆，TF 4针接口
• 锰靶（Mn）X射线管，5米电缆，TF 4针接口
• 钛靶（Ti）X射线管，5米电缆，TF 4针接口
• 钼靶（Mo）X射线管，5米电缆，TF 4针接口
• 铁靶（Fe）X射线管，5米电缆，TF 4针接口
• 镍靶（Ni）X射线管，5米电缆，TF 4针接口
• 钒靶（V）X射线管，5米电缆，TF 4针接口
• 钴靶（Co）X射线管，5米电缆，TF 4针接口

提供不同尺寸的准直器，用于优化样品表面上的照射测量点。准直器越小，X射线通量越低。大尺寸准直器可用于解决大晶粒尺寸的问题。

• 准直器0.3 毫米，L22.5 毫米
• 准直器0.8 毫米，L22.5 毫米
• 准直器1.5 毫米，L22.5 毫米
• 准直器2.5 毫米，L22.5 毫米
• 准直器5.0 毫米，L17.5 毫米
• 管式准直器0.5 毫米，L22.5 毫米
• 管式准直器0.8 毫米，L22.5 毫米
• 管式准直器1.1 毫米，L22.5 毫米
• 管式准直器2.0 毫米，L22.5 毫米

另有专用准直器可供选择，请联系销售部门。

Xstress MU 警报灯组件

• 可选配的警示灯，适用于便携式使用。

加长腿，600 毫米

• 600 毫米支腿，需3 件。

Xstress 适配器，用于将Xstress MU连接至旧款Xstress安全防护罩

• 用于将Xstress DR45与旧款Xstress安全机柜配合使用的适配器线缆套装。

Xstress 适配器、X射线管、TF 4针直连接头

• 用于将Xstress G2/G2R/G3/Robot X射线管与Xstress DR45配合使用的适配器线缆。

射线管延伸臂，延长92 毫米(Xstress DR45 S)

• 仅适用于Xstress DR45 S，无法与旋转三脚架配合使用。

射线管延伸臂，延长135 毫米(Xstress DR45 S)

• 仅适用于Xstress DR45 S，无法与旋转三脚架配合使用。

粉末样品是无应力的，用于设定正确的2θ角范围以及正确的测量距离。

注：粉末样品材料不必与被测样品材料完全一致。粉末样品衍射X射线的峰位应与被测材料的衍射峰位相差不超过5度。

粉末样品:

• 铁素体铁
• 奥氏体铁
• 铝
• 铜
• 钛
• 镍
• 钨
• 碳化钨
• 钴
• 锰
• 因科镍合金718
• 氧化铝 (Al2O3)
• 铬

如果所需的粉末样品不在列表中，请咨询是否有货。

残余应力参考试样

• 高应力钢试样。如需其他试样材料，请联系销售部门。标称应力值约为-600 MPa。

残余奥氏体参考样品

• 样品套装包含三个残余奥氏体参考粉末样品，其残余奥氏体含量分别为约2%、约8%和约15%，以及一个带固定螺丝孔的样品托盘。

Xstress Camera 用于验证和对中Xstress DR45 和Xstress Robot。
Xstress Studio 1.4.0及更高版本支持Xstress Camera 功能。Xstress Studio内置了用于验证和测量光束在倾斜、旋转及Z方向上偏移的程序。根据这些结果，可相应地调整衍射仪。

• Xstress Camera
• 用于供电和通讯的USB线缆
• 包含探测器配置文件和Pixet软件的USB闪存盘
• Xstress Camera 运输箱

Xstress Cabinet 该设备是Xstress DR45衍射仪系列的理想补充。测量区域四周均设有安全防护罩。Xstress Cabinet符合IEC 61010标准，适用于实验室安全使用。设备门上配备了安全联锁装置，可在门打开时防止X射线泄漏。

欲了解更多信息，请访问 Xstress Cabinet.

Xstress Profile 该设备可与Xstress DR45衍射仪配合使用。Xstress Profile通过软件控制的运动，可在同一系统内实现残余应力和残奥氏体深度的剖面测量。

更多详情请访问 Xstress Profile 。

Xstress Walls该产品与Xstress DR45衍射仪和Xstress Robot系统相辅相成，可对大型样件进行安全高效的测量。

欲了解更多信息，请访问Xstress Walls.

MC1100 是一个用于控制辅助轴运动的运动控制单元。MC1100可通过以太网端口同步驱动四台有刷直流伺服电机，并实现高精度控制。

电机连接方式取决于MC1100的使用场景。

• LEDs
  • 指示灯电机电源：指示MC1100是否通电
  • 电源：指示MC1100是否向电机供电
  • 以太网：指示以太网通信状态
• 接口
  • 安全接口
  • 电源接口
  • 电机接口
  • 模拟输入/输出
  • 数字输入/输出
  • 以太网接口
  • USB接口（未使用）

请注意，当将Xstress DR45与Xstress Column、Xstress Linear（包含在Xstress Profile中）或Xstress XY配合使用时，必须使用MC1100。一个MC1100最多可支持4个轴。

电动垂直运动佛如Xstress Column可轻松调整衍射仪的位置，以便测量不同形状和尺寸的样品。Xstress Column的垂直运动通过Xstress Studio软件进行控制。Xstress Studio可直观显示垂直运动的情况。

• 在Xstress Studio中操作电动升降功能
• 手动倾斜30 度，带旋转功能

请注意，当将Xstress DR45与Xstress Column、Xstress Linear（包含在Xstress Profile中）或Xstress XY配合使用时，必须使用MC1100。一个MC1100最多可支持4个轴。

烟雾净化器用于清除电解抛光产生的烟雾。

详情请咨询销售部门。

用于固定电脑显示器和键盘的支架，其支架框架已安装到位。

• 可调节高度的扶手，符合人体工学设计
• 显示器高度调节、横竖屏旋转以及30度倾斜
• 鼠标和条形码扫描器一体式支架
• 带左右鼠标托盘的键盘托盘

Xstress XY

Xstress XY 工作台具有优化的占地面积。X和Y方向的行程为200毫米，精度为0.015毫米。X-Y方向的运动通过Xstress Studio软件进行控制。Xstress Studio软件可对运动过程进行可视化显示。

• 带M4和M6安装孔的XY工作台（配面包板）
• MC1100与XY工作台之间的电缆
• 最大零件重量 9 kg
• 最大零件尺寸取决于样品形状及其他选项。详情请咨询销售部门。

请注意，当将Xstress DR45 与Xstress Column、Xstress Linear（包含在Xstress Profile 中）或Xstress XY 配合使用时，必须使用MC1100（100300）。一个MC1100 最多可支持4 个轴。

用于RA测量的简易转台

借助简易旋转装置，可在测量过程中对试样进行精确对准和旋转。该装置支持连续旋转，从而在进行残余奥氏体测量时，能够进一步随机化采样体积。

• 旋转单元
• 电源
• 电缆

Matrix X-Support XS 套件

• 该套件包含两个样品夹具，其夹持范围分别为30毫米和39毫米
• 快速且安全地固定复杂样件

Precision machine vice Vertex VUA-3

• 颚口宽度80 毫米
• 360度水平旋转
• 45度垂直倾斜
• 精密磨削材料：VISE SK2
• 硬度HRC 52°±2°
• 重量: 12 kg
• 承重：15 公斤

*X射线衍射仪需配备延长支架。

Vertex VDV-35 工具制造商虎钳

• 颚口宽度：121 毫米
• 垂直度和平行度：±0.005 毫米/100 毫米
• 硬度：HRC 54°±2°
• 重量: 9.2 kg

为了制作深度剖面图，Xstress系统可配备电解抛光装置。

电解抛光机MoviPol-5

• 自动抛光和蚀刻
• 方法数据库
• 电解液盒系统
• 适用于任何工作位置的蠕动泵
• 安全功能

电解抛光用电解液混合物

• Struers A2-I / A2-II（含高氯酸）
• 用于深度剖面的非酸性电解液（Stresstech 推荐）

深度测量支架用于对准和定位千分表，以便在深度剖面测量中测量材料的去除量。目前提供三种不同型号的测量支架。以下列出了这三种型号的共同特点：

• 用于将千分表固定到位的旋钮
• 用于水平调节的旋钮
• 用于锁定千分表垂直位置的手柄
• 用于锁定支撑件垂直位置的手柄

不包含千分表，请查看可选的千分表型号

深度测量架

• 配备一块带有四个螺丝孔的底板，用于将深度测量支架固定在底座上

深度测量支架，可移动式

• 配备带螺纹孔的底板和两个可调节挡块，用于将物体定位在千分表下方

带磁吸固定的深度测量支架

• 配备磁性底座，可将支架牢固地固定在使用处的基座上
• 推荐用于Xstress Profile的深度测量支架型号

带主轴提升绳的千分表（12.5 毫米）

• 液晶显示屏
• 该千分表配有主轴提升绳，可在不触碰千分表的情况下进行测量

带主轴升降旋钮的25毫米千分表

• 液晶显示屏
• 千分表配有主轴升降旋钮
• 对于12.5毫米行程不满足需求的应用场景
• 此型号无主轴提升绳

千分表三脚架

• 包含用于千分表主轴的30 毫米延长杆

• 用于放置电脑、显示器、键盘和打印机的柜子
• 带冷却装置的电脑机柜，230 V 交流电
• 带冷却装置的电脑机柜，115 V 交流电

• 笔记本电脑
• 台式电脑和显示器
• 台式电脑

• 电脑显示器
• 电脑键盘和鼠标
• 可编程12键键盘
• 电脑打印机

• 调试与培训，XRD
• 在线培训

• 标准产品的本地语言用户手册
• 定制产品及手动系统的地方语言用户手册
• 定制产品及半自动化系统的本地语言用户手册
• 定制产品的本地语言用户手册，自动化/机器人化/在线系统
• 本地语言的技术文档

• 印刷版用户手册，标准产品，一份
• 测量系统的印刷版文件夹，一份