Xstress DR45
Xstress DR45测量的残余应力超出了实验室设置范围,进入了生产区域。简单用户界面的易用性背后是无缝的效率。
制造业用Xstress DR45
- 快速测量,甚至适用于生产区域
- 操作人员易于使用的软件
- 频繁测量模板
实验室用Xstress DR45
- 遵循 EN15305标准
- 可进行多种计算。包括线性和椭圆回归、Dölle-Hauk、应力张量和主应力等特征。峰值拟合函数包括互相关函数、抛物线函数、高斯函数、洛伦兹函数、修正洛伦兹函数、中间洛伦兹函数、皮尔逊VII函数、伪Voigt函数、Voigt函数、质心函数、中心质心函数、滑动重心函数和中弦函
- 衍射仪的设计能够测量各种不同尺寸和形状的零件
- 轻松快速更换X射线管
野外用Xstress DR45
- 快速组装,10分钟后即可使用
- 衍射仪和Xstress MU的稳健设计
- 衍射仪设计可在非平表面上进行测量;使用磁性脚,可将衍射仪固定在不同位置。
Xstress DR45
特征
Xstress DR45, 衍射仪
- 旋转角 ±180°
- 倾斜角±45°
- 标准测量距离45mm
- 带高度调节的磁性支腿
X射线管
- 带高压电缆的铬(Cr)靶射线管
- 最大输出:30 kV/9 mA/270W
- 快速更换
DR45探测器组
- 22D 探测器, 2个
- 量子效率5 keV时,>90%
- 56 x 256像素
- 像素尺寸55µm
- 无暗电流
- 探测器弧 45 mm
- 探测器2θ角:
- 可调范围:127–165°
- 索引位置 135°/145°/156.4°
- 探测器2θ角:
Xstress MU
- X射线电源5–30 kV/0–10 mA,可在限制范围内自由调节
- 给式液体冷却
- 包括完全安全所需的所有联锁装置
- 硬件状态触摸屏
Xstress Studio*
- 测量控制
- 数据分析
- 测量可视化
- 硬件擦伤控制
*下面的详细信息
Xstress DR45工具箱
- C用于系统调整和维护的整套工具
电缆
- Xstress MU电源电缆
- 用于Xstress MU 与计算机通讯连接的网线
Xstress DR45测量附件组
- 可更换准直器
- 不同尺寸的准直器,用于优化测量区域和测量时间
- 0.5/1/2/3/4 mm 光斑尺寸
- 用于距离校准的无应力粉末样品组
- 铁素体/铁 奥氏体/铝
- A系统维护附件,如备用保险丝
运输箱
- 运输和储存用铝合金箱
选件
射线管
- X射线管(铬),含 1 m冷却软管
- X射线管(铜) ,含1 m冷却软管
- X射线管 (锰),含1 m冷却软管
射线管电缆
- Xstress 高压电缆,5m电缆,含卡箍
- Xstress 冷却软管,4m, 2根
硬件
- 用户定制准直器
- 加长螺杆支腿 DR45/G2/G2R, 600mm
Xstress Studio
语言可选
- Xstress 工作室用德语
- Xstress 工作室用中文
外型尺寸
Xstress DR45
Xstress MU
软件
Xstress Studio
- 硬件操作控制:探测器、直流电机、电源、快门、安全联锁功能、电压和电流等。
- 使用零应力粉末样品进行自动校准,以设置衍射仪与样品之间的距离
- 深度分布测量和各种应力分布图测量项目管理
- 材料参数库功能
- 给定材料和辐射的理论峰值位置计算器
- 修正的χ和Ω测量模式
- 使用最熟知的方法(如互相关和峰值拟合方法)确定峰值偏移
- 具有10种不同功能的峰值拟合:高斯、洛伦兹、修正洛伦兹、中间洛伦兹、皮尔逊VII、分离皮尔逊VII、伪Voigt、分离伪Voigt、Voigt和分离Voigt
- 应力分量和主应力的计算
- 基于JSON的项目文件格式
- 符合EN 15305:2008
Xstress 工作室计算方法
- 数据准备
- 吸收校正
- 洛伦兹校正
- 偏振校正
- 背底扣除
- 常数背底
- 线性背底
- 抛物线背底
- 伦琴校正(K-alpha2剥离)
- 平滑化
- 移动平均数
- 萨维茨基·戈雷
- 峰
- 最大强度(高度)
- FWHM (半高宽)
- 整体宽度
- 面积
- 峰位移(衍射峰位确定
- C互相关
- 质心(重心)
- 中心质心(重心)
- 滑动重心
- 中弦(x%高度处宽度的中间)
- 抛物线(抛物线拟合)
- 峰形拟合(轮廓函数拟合)
- 高斯轮廓
- 洛伦轮廓
- 修正洛伦兹轮廓
- 中间洛伦兹轮廓
- 皮尔逊VII轮廓
- 分离皮尔逊VII 轮廓
- P伪Voigt轮廓
- 分裂伪Voigt轮廓
- Voigt轮廓
- 正应力和剪应力
- 线性回归
- 椭圆回归
- Dölle-Hauk
- S应力分量
- 无sigma33的应力分量
- sigma33应力分量
- 主应力
- 最小和最大正应力
- 最大剪应力
- 等效应力
- 统计
- 最大强度
- 最小强度
- 强度比及校核
- 最大面积
- 最小面积
- 面积比和校核
- 均半高宽(FWHM)
- 深度剖面
- 深度剖面校正
安全
ANSI N43.3 – 1993
- 满足或超过ANSI N43.3-1993和其他开放式X射线操作行业标准
- X-ray diffractometer safety regulations in general