Xstress DR45 X線回折装置
Xstress DR45 残留応力測定のための、最先端のX線回折装置

Xstress DR45 2D
Xstress DR45は2次元検出器と自動回転機構を備えている高速で高精度な残留応力を測定できるX線回折装置です。解析のための高品質なデー
タを幅広く取得でき、品質管理、産業プロセスのモニタリング、研究に最適です。
- 高速で正確な残留応力測定
- 自動回転機構による複数方向からの測定が可能
- 高度な追加機能

Xstress DR45 1D
Xstress DR45は1次元検出器と自動回転機構を備えた、高精度な残留応力を測定できるX線回折装置であり、高品質なデータを提供します。
- 高精度な残留応力測定
- 自動回転機構による複数方向からの測定が可能
Xstress DR45 2D
システム情報
Xstress DR45 は2次元検出器と自動回転機構を備えている高速で高精度な残留応力を測定できるX線回折装置です。解析のための高品質なデータを幅広く取得でき、品質管理、産業プロセスのモニタリング、研究に最適です。
- 高速で正確な残留応力測定
- X線照射径:1mm、線源:Cr管球、材質:鋼材、
- X線入射角度:9角度で測定時間は45秒以内
- 大きな結晶粒や強い集合組織を有する材料など、難しい材料に対しても迅速な残留応力測定が可能です。
- 小さなX線照射径でも短時間で測定可能
- 従来から実績のあるsin²ψ法による側傾法及び並傾法の両方で測定可能
- 自動回転機構による複数方向からの測定が可能
- 複数方向から残留応力を測定できるため、主応力の算出が可能です。
- 測定が難しい材料も回転揺動機能により測定精度が向上
- 高度な追加機能
- 粒径・集合組織評価のための2D強度解析が可能
- 硬さ評価のための高機能ピーク幅解析機能
- 連続スイープモード測定
最初に必要な機能のみ導入し、その後のニーズの変化に応じて柔軟にアップグレードすることができます。Xstress DR45には残留オーステナイト量測定や自動マッピング機能等のさまざまなオプションがあります。
特徴
Xstress DR45(X線回折装置)
- Xstress DR45 X線回折装置は、高い剛性と精密設計ボディにより、装置の安定性と測定精度を最大限に高めています。
- X線入射角度を±45°の範囲でソフトウェア制御により高精度に傾斜させる構造を採用しており、ステップごとの角度調整とスムーズな連続傾斜の両方に対応することで、柔軟な測定を可能にします。
- 従来から実績のあるsin²ψ法による側傾法及び並傾法の両方で測定可能です。
回転機構付きXstress DR45用の三脚
- 回転機構を備えているため、ソフトウェア制御による±180°回転が可能です。
- 高さ調整機能を備えた脚にマグネットを装着することによって、装置を測定面にしっかりと固定できます。また、高さ調整機能によって、さまざまなサイズの部品に対しても正確な位置決めと測定が可能です。
Xstress DR45用2次元検出器セット
2D 検出器によりXRD 解析の効率が向上し、測定が難しい材料に対しても、より高速かつ高精度な測定が可能になります。
- 2次元検出器、2個
- 5keVにおける量子効率は90%以上
- 256×256ピクセル、ピクセルサイズ55μm
- 暗電流なし
- 2次元検出器用の標準アーク
- 検出器の2θ角度
- 127~165°の範囲で調整可能
- インデックス・ポジション135°/140°/145°/150°/156.4°
- 検出器の2θ角度
Xstress MU
Xstress メインユニットは、X線回折装置に安定した電源供給と制御機能を提供し、高い測定精度と安全性を実現します。
人間工学に基づく可搬設計により、ハンドルとキャスターを一体化しており、装置の移動や設置を容易に行うことができます。
- X線電源は5~30 kV/0~10 mAの範囲で自由に調整可能で、安全な動作範囲内で設定できます。
- 一体型冷却循環システム:最適な温度安定性と連続運転を実現
- インターロック機構:必要なすべての安全機能が付いているため、ユーザーを完全に保護します。
- タッチスクリーンインターフェース:リアルタイムでハードウェアの状態を監視し、直感的な操作を可能にします。
X線管球
水冷式の高電圧交換型X線管により、最適な温度安定性を確保します。
- 標準装備はCr管球。管球の交換が容易(Cu、Co、Fe、V、Ti、Mn)で異なる材質の測定が可能
- 最大出力30 kV/9 mA/270 W
Xstress Studio(制御ソフト)
高度なX線回折ソフトウェアがハードウェアをシームレスに制御し、応力および回折データを高精度に解析できます。深さ方向分布測定やマッピング測定においても、高い信頼性を発揮します。
- 測定制御とデータ解析
- 2D 強度解析により、結晶粒径や集合組織の評価などに対応します。
- 回折ピーク幅(FWHM)の高度解析による硬さ評価機能
- 測定の可視化
- 装置の操作制御機能
- 「標準EN 15305:2008 およびASTM 975-22(残留オーステナイト分析)に準拠」
測定アクセサリー
- X線照射径は測定箇所と測定時間に適するよう、様々なサイズを用意
- X線照射径:0.5、1、2、3、4 mm
- 標準の距離校正用無応力サンプルセット
- α-Fe、γ-Fe、Al
- メンテナンス用アクセサリー(スペアヒューズ等)
システムアクセサリー
- 電源ケーブル
- 本体とコンピュータを接続するためのイーサネットケーブル
- メンテナンスツール一式
- 冷却液をシステムへ安全かつ容易に補充できるボトル
ドキュメント
- 使用時にスムーズかつ効率的に行うための、充実したユーザードキュメントを提供します。
輸送ケース
- 保管および輸送用の装置専用アルミ製ケース
モジュラー設計のため、将来的な拡張にも対応可能
- Xstress DR45はXstress DR45はモジュール構造で設計されており、新しい機能やアップグレードを柔軟に追加できます。「詳細については営業担当までお問い合わせください。」
Xstress DR45 2Dによる一方向の残留応力測定 — 例
| 材料 | 測定モード | コリメータ | X線管 | 出力 | 傾斜数 | 傾斜範囲 | 測定時間 |
| 鋼材 | 修正χ法 | 1 mm | Cr | 270 W | 5/5 | -45°/45° | 29秒 |
| 鋼材 | Ω | 0.5 mm | Cr | 270 W | 4/4 | -45°/45° | 25秒 |
| 鋼材 | 修正χ法 | 0.3 mm | Cr | 270 W | 5/5 | -40°/40° | 80秒 |
| チタン | 修正χ法 | 2 mm | Cu | 300 W | 5/5 | -45°/45° | 69秒 |
| チタン | 修正χ法 | 1 mm | Cu | 300 W | 6/6 | -45°/45° | 60秒 |
| インコネル718 | 修正χ法 | 1 mm | Cr | 270 W | 5/5 | -45°/45° | 90秒 |
| 集合組織を有するマグネシウム | 修正χ法 | 3 mm | Cr | 270 W | 5/5 | -45°/45° | 120秒 |
| Al | 修正χ法 | 1 mm | Cr | 270W | 5/5 | -45°/45° | 30秒 |
| Cu | 修正χ法 | 1 mm | Cr | 270W | 5/5 | -45°/45° | 30秒 |
| WC | 修正χ法 | 3 mm | Cu | 270 W | -5/5 | -45°/45° | 45秒 |
| WC | 修正χ法 | 3 mm | Cr | 270 W | -5/5 | -45°/45° | 45秒 |
| WC | 修正χ法 | 3 mm | Mn | 210 W | -5/5 | -45°/45° | 45秒 |

Xstress DR45 1D
システム情報
は1次元検出器と自動回転機構を備えた、高精度な残留応力を測定できるX線回折装置であり、高品質なデータを提供します。
- 高精度な残留応力測定
- 幅広い材質に対応し、正確かつ信頼性の高い残留応力測定が可能です。
- 従来から実績のあるsin²ψ法による側傾法及び並傾法の両方で測定可能です。
- 自動回転機構による複数方向からの測定が可能
- 複数方向から残留応力を測定できるため、主応力の算出が可能です。
- 測定が難しい材料も回転揺動機能により測定精度が向上
最初に必要な機能のみ導入し、その後のニーズの変化に応じて柔軟にアップグレードすることができます。Xstress DR45には残留オーステナイト量測定や自動マッピング機能等のさまざまなオプションがあります。
特徴
Xstress DR45(X線回折装置)
- Xstress DR45 X線回折装置は、高い剛性と精密設計ボディにより、装置の安定性と測定精度を最大限に高めています。
- X線入射角度を±45°の範囲でソフトウェア制御により高精度に傾斜させる構造を採用しており、ステップごとの角度調整とスムーズな連続傾斜の両方に対応することで、柔軟な測定を可能にします。
- 従来から実績のあるsin²ψ法による側傾法及び並傾法の両方で測定可能です。
回転機構付きXstress DR45用の三脚
- 回転機構を備えているため、ソフトウェア制御による±180°回転が可能です。
- 高さ調整機能を備えた脚にマグネットを装着することによって、装置を測定面にしっかりと固定できます。また、高さ調整機能によって、さまざまなサイズの部品に対しても正確な位置決めと測定が可能です。
検出器セット
1次元検出器は標準な機能を有していて、XRD測定に適した材料に対して効果的です。
1次元検出器Xstress DR45
- 1次元検出器(2個/セット)
- 量子効率:約5%(5 keV 時)
- 1×256ピクセル、ピクセル幅50μm
- 定期的な暗電流測定が必要
- 検出器アーク長さ50mm
- 2θ角度は110-165°をカバーするように手動調整165°
Xstress MU
Xstress メインユニットは、X線回折装置に安定した電源供給と制御機能を提供し、高い測定精度と安全性を実現します。
人間工学に基づく可搬設計により、ハンドルとキャスターを一体化しており、装置の移動や設置を容易に行うことができます。
- X線電源は5~30 kV/0~10 mAの範囲で自由に調整可能で、安全な動作範囲内で設定できます。
- 一体型冷却循環システム:最適な温度安定性と連続運転を実現
- インターロック機構:必要なすべての安全機能が付いているため、ユーザーを完全に保護します。
- タッチスクリーンインターフェース:リアルタイムでハードウェアの状態を監視し、直感的な操作を可能にします。
X線管球
水冷式の高電圧交換型X線管により、最適な温度安定性を確保します。
- 標準装備はCr管球。管球の交換が容易(Cu、Co、Fe、V、Ti、Mn)で異なる材質の測定が可能
- 最大出力30 kV/9 mA/270 W
Xstress Studio
高度なX線回折ソフトウェアがハードウェアをシームレスに制御し、応力および回折データを高精度に解析できます。深さ方向分布測定やマッピング測定においても、高い信頼性を発揮します。
- 測定制御とデータ分析
- 測定の可視化
- 装置の操作制御機能
- 「標準EN 15305:2008 およびASTM 975-22(残留オーステナイト分析)に準拠」
測定アクセサリー
- X線照射径は測定箇所と測定時間に適するよう、様々なサイズを用意
- X線照射径:0.5、1、2、3、4 mm
- 標準の距離校正用無応力サンプルセット
- α-Fe、γ-Fe、Al
- メンテナンス用アクセサリー(スペアヒューズ等)
システムアクセサリー
- 電源ケーブル
- 本体とコンピュータを接続するためのイーサネットケーブル
- メンテナンスツール一式
- 冷却液をシステムへ安全かつ容易に補充できるボトル
ドキュメント
- 使用時にスムーズかつ効率的に行うための、充実したユーザードキュメントを提供します。
輸送ケース
- 保管および輸送用の装置専用アルミ製ケース
モジュラー設計のため、将来的な拡張にも対応可能
- Xstress DR45はXstress DR45はモジュール構造で設計されており、新しい機能やアップグレードを柔軟に追加できます。「詳細については営業担当までお問い合わせください。」

詳細
寸法
Xstress DR45

Xstress MU

Xstress Studio
Xstress Studio
- ハードウェアでの操作制御:検出器、DCモーター、電源、X線開閉シャッター、セーフティインターロック機能、電圧と電流など
- ゼロ応力粉末試料を用いた自動校正により、回折計と試料間の距離を設定する
- 深さ分布測定およびあらゆる種類のマッピング測定のプロジェクトマネージャー
- 材料パラメータ用のライブラリ関数
- 指定された材料および放射線に対する理論ピーク位置計算機能
- 修正XモードおよびΩ測定モード
- 相互相関法やピークフィット法など、主要な手法を用いたピークシフトの決定
- 10種類の関数を用いたピークフィット:Gauss, Lorentz, Modified Lorentz, Intermediate Lorentz, Pearson VII, Split Pearson VII, Pseudo-Voigt, Split Pseudo-Voigt, Voigt, Split Voigt
- JSONベースのプロジェクトファイル形式
- 残留応力解析についてはEN 15305:2008に準拠し、オプションでASTM E975-22に基づく残留オーステナイト解析にも対応しています。



計算方法
- データの準備
- 吸収補正
- ローレンツ補正
- 偏り因子補正
- バックグランドの減算
- コンスタント
- リニア
- パラボリックRachinger法(Kα2除去)
- スムージング
- 移動平均
- Savitzky-Golay処理
- ピーク
- 最大強度(高さ)
- FWHM (半価幅)
- 積分幅
- エリア
- ピーク シフト (回折ラインの位置決定)
- Cross-correlation(ピークのズレを求める)
- Centroid(回折強度分布の重心を計算する方法)
- Centered centroid(Centroid法の変形で、重心を回折ピーク周で対称形状として計算する方法)
- Sliding center of gravity
- Midchord(回折強度分布を横切る水平な直線の中心位置から計算する方法)
- Parabolic(ピーク位置をピークトップ部の放物線フィッティングによる決定)
- Peak fit (profile function fit)
- Gauss profile
- Lorentz profile
- Modified Lorentz profile
- Intermediate Lorentz profile
- Pearson VII profile
- Split Pearson VII profile
- Pseudo-Voigt profile
- Split Pseudo-Voigt profile
- Voigt profile
- 通常と剪せん断応力
- Linear regression
- Elliptical regression
- Dölle-Hauk
- 応力テンソル
- 応力テンソル、sigma33無し
- 応力テンソル、sigma33あり
- 主応力
- 最小と最大応力
- 最大剪せん断応力
- 等価ひずみ
- 統計データ
- 最大強度
- 最小強度
- 強度の確認
- 最大エリア
- 最小エリア
- エリアの確認
- 平均半価幅
- 深さプロファイル
- 深さ補正
オプション
Xstressファミリーを補完するために、測定をより簡単・迅速・安全に実施できる各種オプションを取り揃えています。
詳細については Xstress options ページをご参照ください。
安全
X線安全-ANSI N43.3 –2008
- ANSI N43.3 – 2008
およびその他の非医療用X線装置に関する業界規格に準拠しています。 - Xstress X線回折計は、最大30 kVの電圧、10 mAの電流、300 Wの出力で動作します。取扱説明書には、装置の操作に関する安全手順が記載されています。
- 当社は、適用される各国の規制およびお客様固有の安全要件に準拠した、IEC 61010に適合する安全エンクロージャーを提供しています。
- X-ray diffractometer safety regulations in general
Xstress DR45の詳細については、お問い合わせください。
当社のエンジニアがお客様のご質問にお答えし、ニーズに最適な試験装置の選定をサポートいたします。
