測定サービス

定期的な品質管理検査、研究・製品開発、あるいは不具合解析のいずれの場合でも、40年にわたる当社の経験を活かし、最も有用なデータを最小限のコストで取得できるよう、実験計画の設計をサポートいたします。

認定X線回折（XRD）試験所として、当社は残留応力および残留オーステナイトの測定において、国際的に認められた標準手法に基づく測定を実施しています。

強磁性材料に対しては、バルクハウゼンノイズ解析（BNA）を用いることで、広範囲にわたる定性的かつ非破壊的な解析を行い、従来の手法では見落とされる可能性のある注目領域の特定を可能にします。

また、ESPI穴あけ法では、電子スペックルパターン干渉法（ESPI）を用いて表面変位を測定し、そこから残留応力を算出します。

試験所の能力

• XRDを用いた、面内主応力を算出する残留応力測定
• XRDによる残留オーステナイトの測定
• 応力や微細組織の変化を生じさせることなく、表面下評価を可能にする電気化学的材料除去による深さ方向プロファイリング
• 強磁性材料における定性的BNAによる近表面欠陥の検出
• 通常は回折性が低い材料や非結晶材料に適用される、ESPI穴あけ法による半自動残留応力深さプロファイリング
• 0.3 mmの測定スポットサイズから、最大3000ポンドのコンポーネントまで、ラボ内試験およびその中間サイズのあらゆる試験に対応

以下の測定について認定を受けています：

残留応力：

• • EN 15305
  • ASTM E915
  • SAE HS-784
  • ASTM E2860

残留オーステナイト：

• ASTM E975
• SAE 800426

詳細情報は「認定（Certifications）」ページをご覧ください。